DIL 820 系列仪器在工作时保持垂直取向，能够设定独特的参数执行以下操作：分析烧结状态、进行速率控制烧结 (RCS) 测定，以及确定软化温度。

DIL 820 系列共有 4 个版本，都配备了分辨率达 1nm 的新型光学编码器。若搭配使用 DIL822 的独特真实差分测量技术，便可助您轻松获得出类拔萃的测量灵敏度和准确度。

该款立式膨胀仪装配的直线电机在实验中自始至终提供恒定推力，确保不管样品尺寸如何改变，始终用 轻柔的力推动测量部件，保持其与样品接触。

不同于卧式膨胀仪，立式设计不需要支撑样品。试样被放置在底板上，不受别的部件支撑，推杆顶住其顶端。

立式设计尤其适用于高温测量合成研究对象与粉末样品。如果要在高温下长时间使用膨胀仪检测样品，保持垂直取向，便可防止测量系统和炉管下垂，延长仪器的使用寿命。

增量式光学编码器的测量范围宽，分辨率高达 1 nm。用户便可选用较小的试样，由于热梯度下降，测量结果的精度明显提升。此外，直线驱动器确保试样载荷高度精确、真正恒定不变，具体值从 0.01 N 至 1 N 不等。

TA 出品的立式膨胀仪集技术创新与 DIL 820 系列的设计于一体，是您进行高烧结率测定、检测高收缩样品的膨胀性能的得力助手。

举例来说，WinTA 软件新发布了 T-RCS（真实速率控制烧结）功能，该功能支持仪器自动校正加热廓线，确保烧结陶瓷生坯时实现恒定的烧结率（单位时间的收缩量）。样品真实的绝对收缩量必须被实时记录和解读。DIL 822 和 DIL 822HT 配备了真实差分测量系统，可删除满足这些要求。

再举一例，在样品下方或顶部放置氧化铝圆盘后，用户便可将样品温度 高升至其软化点，在高温下测量样品的膨胀性能，又不会损坏测量系统。立式设计的核心优势为不需要将样品放置在支架上。这就从根本上解决了样品在收缩/膨胀过程中与支架相互摩擦的问题，因此，不仅避免这种摩擦损坏测量系统，还消除了可能与这种摩擦相关的任一种乃至所有测量误差。

此外，由于立式设计能够精确控制向试样施加的力度，有效防止试样崩塌或松垂，所以可十分方便地测量易碎、粉状或软化的样品。

DIL 820 系列仪器在工作时保持垂直取向，能够设定独特的参数执行以下操作：分析烧结状态、进行速率控制烧结 (RCS) 测定，以及确定软化温度。

DIL 820 系列共有 4 个版本，都配备了分辨率达 1nm 的新型光学编码器。若搭配使用 DIL822 的独特真实差分测量技术，便可助您轻松获得出类拔萃的测量灵敏度和准确度。

该款立式膨胀仪装配的直线电机在实验中自始至终提供恒定推力，确保不管样品尺寸如何改变，始终用 轻柔的力推动测量部件，保持其与样品接触。

不同于卧式膨胀仪，立式设计不需要支撑样品。试样被放置在底板上，不受别的部件支撑，推杆顶住其顶端。

立式设计尤其适用于高温测量合成研究对象与粉末样品。如果要在高温下长时间使用膨胀仪检测样品，保持垂直取向，便可防止测量系统和炉管下垂，延长仪器的使用寿命。

增量式光学编码器的测量范围宽，分辨率高达 1 nm。用户便可选用较小的试样，由于热梯度下降，测量结果的精度明显提升。此外，直线驱动器确保试样载荷高度精确、真正恒定不变，具体值从 0.01 N 至 1 N 不等。

TA 出品的立式膨胀仪集技术创新与 DIL 820 系列的设计于一体，是您进行高烧结率测定、检测高收缩样品的膨胀性能的得力助手。

举例来说，WinTA 软件新发布了 T-RCS（真实速率控制烧结）功能，该功能支持仪器自动校正加热廓线，确保烧结陶瓷生坯时实现恒定的烧结率（单位时间的收缩量）。样品真实的绝对收缩量必须被实时记录和解读。DIL 822 和 DIL 822HT 配备了真实差分测量系统，可删除满足这些要求。

再举一例，在样品下方或顶部放置氧化铝圆盘后，用户便可将样品温度 高升至其软化点，在高温下测量样品的膨胀性能，又不会损坏测量系统。立式设计的核心优势为不需要将样品放置在支架上。这就从根本上解决了样品在收缩/膨胀过程中与支架相互摩擦的问题，因此，不仅避免这种摩擦损坏测量系统，还消除了可能与这种摩擦相关的任一种乃至所有测量误差。

此外，由于立式设计能够精确控制向试样施加的力度，有效防止试样崩塌或松垂，所以可十分方便地测量易碎、粉状或软化的样品。